现在科技迅速在发展当中,本文我们为大家深入讲解RCD吸收电路设计与目前国内其他产品相比的优势,希望对大家有所帮助。
一﹑首先对mos管的VD进行分段:
Ⅰ,输入的直流电压VDC;
Ⅱ,次级反射初级的VOR;
Ⅲ,主MOS管VD余量VDS;
Ⅳ,RCD吸收有效电压VRCD1。
二﹑对于以上主MOS管VD的几部分进行计算:
Ⅰ,输入的直流电压VDC。
在计算VDC时,是依最高输入电压值为准。如宽电压应选择AC265V,即DC375V。
VDC=VAC *√2
Ⅱ,次级反射初级的VOR。
VOR是依在次级输出最高电压,整流二极管压降最大时计算的,如输出电压为:5.0V±5%(依Vo =5.25V计算),二极管VF为0.525V(此值是在1N5822的资料中查找额定电流下VF值).
VOR=(VF +Vo)*Np/Ns
Ⅲ,主MOS管VD的余量VDS.
VDS是依MOS管VD的10%为最小值.如KA05H0165R的VD=650应选择DC65V.
VDS=VD* 10%
Ⅳ,RCD吸收VRCD.
MOS管的VD减去Ⅰ,Ⅲ三项就剩下VRCD的最大值。实际选取的VRCD应为最大值的90%(这里主要是考虑到开关电源各个元件的分散性,温度漂移和时间飘移等因素得影响)。
VRCD=(VD-VDC -VDS)*90%
注意:
① VRCD是计算出理论值,再通过实验进行调整,使得实际值与理论值相吻合.
② VRCD必须大于VOR的1.3倍.(如果小于1.3倍,则主MOS管的VD值选择就太低了)
③ MOS管VD应当小于VDC的2倍.(如果大于2倍,则主MOS管的VD值就过大了)
④ 如果VRCD的实测值小于VOR的1.2倍,那么RCD吸收回路就影响电源效率。
⑤ VRCD是由VRCD1和VOR组成的
Ⅴ,RC时间常数τ确定.
τ是依开关电源工作频率而定的,一般选择10~20个开关电源周期。
三﹑试验调整VRCD值
首先假设一个RC参数,R=100K/RJ15, C="10nF/1KV"。再上市电,应遵循先低压后高压,再由轻载到重载的原则。在试验时应当严密注视RC元件上的电压值,务必使VRCD小于计算值。 如发现到达计算值,就应当立即断电,待将R值减小后,重复以上试验。(RC元件上的电压值是用示波器观察的,示波器的地接到输入电解电容“+”极的RC一 点上,测试点接到RC另一点上)
一个合适的RC值应当在最高输入电压,最重的电源负载下,VRCD的试验值等于理论计算值。
四﹑试验中值得注意的现象
输入电网电压越低VRCD就越高,负载越重VRCD也越高。那么在最低输入电压,重负载时VRCD的试验值如果大于以上理论计算的VRCD值,是否和(三)的内容相矛盾哪?一点都不矛盾,理论值是在最高输入电压时的计算结果,而现在是低输入电压。
重负载是指开关电源可能达到的最大负载。主要是通过试验测得开关电源的极限功率。
RCD吸收电路与RC电路的比较
采用RC、RCD吸收电路也可以对变压器消磁,这时就不必另设变压器绕组与二极管组成的去磁电路。变压器的励磁能量都在吸收电阻中消耗掉。RC与RCD吸收电路不仅消耗变压器漏感中蓄积的能量,而 且也消耗变压器励磁能量,因此降低了变换器变换效率。RCD吸收电路是通过二极管对开关电压嵌位,效果比RC好,它也可以采用较大电阻,能量损耗也比RC 小。
RCD吸收电路的影响
1.RCD电容C偏大
电容端电压上升很慢,因此导致mos 管电压上升较慢,导致mos管关断至次级导通的间隔时间过长,变压器能量传递过程较慢,相当一部分初级励磁电感能量消耗在RC电路上 。
2.RCD电容C特别大(导致电压无法上升至次级反射电压)
电容电压很小,电压峰值小于次级的反射电压,因此次级不能导通,导致初级能量全部消耗在RCD电路中的电阻上,因此次级电压下降后达成新的平衡,理论计算无效了,输出电压降低。
3.RCD电阻电容乘积R×C偏小
电压上冲后,电容上储存的能量很小,因此电压很快下降至次级反射电压,电阻将消耗初级励磁电感能量,直至mos管开通后,电阻才缓慢释放电容能量,由于RC较小,因此可能出现震荡,就像没有加RCD电路一样。
4.RCD电阻电容乘积R×C合理,C偏小
如果参数选择合理,mos管开通前,电容上的电压接近次级反射电压,此时电容能量泄放完毕,缺点是此时电压尖峰比较高,电容和mos管应力都很大
5.RCD电阻电容乘积R×C合理,R,C都合适
在上面的情况下,加大电容,可以降低电压峰值,调节电阻后,使mos管开通之前,电容始终在释放能量,与上面的最大不同,还是在于让电容始终存有一定的能量。
综上所述,本文已为讲解RCD吸收电路设计,相信大家对RCD吸收电路设计的认识越来越深入,希望本文能对各位读者有比较大的参考价值。
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