用于超低功率32位单片机生态系统

Microchip 提供了广泛的超低功耗和低功耗的MCUs,平衡了功耗和性能,满足了追求高功能的电力受限应用的需求。

Murata MEX1031传感器评估板

用于研究检查ZPA2326-0311A气压传感器性能,ZPA2326-0311A传感器器件是一款电容式MEMS器件,设有ASIC和I2C接口。

英飞凌BGT24Mxx硅锗MMIC方案

是目前市场上集成度最高的 24GHz ISM 波段雷达收发器系列,采用了 RC 多相滤波器来生成 LO 正交相位。

分享到:
0分

电子产品设计中抗静电释放的设计规则

在电子产品设计中必须遵循抗静电释放的设计规则,本文介绍静电释放(ESD)产生的原理,以及机箱、屏蔽层、接地、布线设计等诸多设计规则,它们有助于预防并解决静电释放产生的危害,值得中国电子设备设计工程师认真研究和学习。  ---查看全文 >>

关键字:电子产品设 

电子产品设计中抗静电释放的设计规则

电子产品设计中必须遵循抗静电释放的设计规则,本文介绍静电释放(ESD)产生的原理,以及机箱、屏蔽层、接地、布线设计等诸多设计规则,它们有助于预防并解决静电释放产生的危害,值得中国电子设备设计工程师认真研究和学习。

电子产品设计中抗静电释放的设计规则
电子产品设计中抗静电释放的设计规则
 

许多产品设计工程师通常在产品进入到生产环节时才着手考虑抗静电释放(ESD)的问题。如果电子设备不能通过抗静电释放测试,他们就会加班加点找寻不破坏原有设计的解决方案。然而,最终的方案通常都要采用昂贵的元器件,还要在制造过程中采用手工装配,甚至需要重新设计,因此,产品的进度势必受到影响。

电子产品设计中抗静电释放的设计规则
电子产品设计中抗静电释放的设计规则

即使对经验丰富的工程师和设计工程师,也可能并不知道设计中的哪些部分有利于抗ESD。大多数电子设备在生命期内99%的时间都处于一个充满ESD的环境之中,ESD可能来自人体、家具、甚至设备自身内部。电子设备完全遭受ESD损毁比较少见,然而ESD干扰却很常见,它会导致设备锁死、复位、数据丢失和不可靠。其结果可能是:在寒冷干燥的冬季电子设备经常出现故障现象,但是维修时又显示正常,这样势必影响用户对电子设备及其制造商的信心

综上所述,本文已为讲解电子产品设计中抗静电释放的设计规则,相信大家对电子产品设计中抗静电释放的设计规则的认识越来越深入,希望本文能对各位读者有比较大的参考价值

浏览过本文<电子产品设计中抗静电释放的设计规则>的人也浏览了   

基础知识
http://baike.cntronics.com/abc?page=100


电子产品设计中抗静电释放的设计规则
http://bbs.cntronics.com/thread-191278-1-1.html


基础知识
http://baike.cntronics.com/abc?page=167



 

本文链接:http://baike.cntronics.com/design/154

相关附件:

分享到: 0
推荐给同仁
0
0
查看全部评论
有人回复时发邮件通知我

关于我们 | About Us | 联系我们 | 隐私政策 | 版权申明 | 投稿信箱

反馈建议:editor@eecnt.com     客服电话:0755-26727371

Copyright © WWW.CNTRONICS.COM  All Rights Reserved 深圳市中电网络技术有限公司 版权所有   粤ICP备10202284号-1 未经书面许可,不得转载本网站内容。