目前，光电耦合器的内部结构及检测方法在当代的应用可谓是越来越广泛，光电耦合器的内部结构及检测方法是值得我们好好学习的，现在我们就深入了解光电耦合器的内部结构及检测方法。

上面我们已经了解过光电耦合器的基本概念，基本原理和应用范围，本文将会讲解光电耦合器的内部结构及检测方法，这对于选购合适的光电耦合器是有十分重大的意义。

光电耦合器它属于比较新型的一种电子产品，它广泛应用于计算机、音视频，它又被叫做光耦合器或光耦，在各种控制电路中。由于光电耦合器内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。

1.光电耦合器的检测判断光耦的好坏，可在路测量其内部.二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。1. 比较法 拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管;三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。

2. 数宇万用表检测法 下面以PCIll光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测时将光耦内接二极管的+端①脚和—端②脚分别插入数字万用表的hfE的c，e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管c极⑤脚接指针式万用表的黑表笔，e极④脚接红表笔，并将指针式万用表拨在Rxlk挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低;若表针不动，则说明光耦已损坏。
3.光电效应判断法 仍以ICIll光电耦合器的检测为例，将万用表置寸：Rxlk电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端④、⑤脚，然后用一节1.5V的电池与一只50-100欧的电阻串接后，电池的正极端接PC111的①脚，负极端碰接②脚，或者正极端碰接①脚，负极端接②脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。

测量其内部.二极管和三极管的正反向电阻，数宇万用表检测法和光电效应判断法都是光电耦合器的检测方法，掌握这些检测方法十分有意义。

综上所述，本文已为讲解光电耦合器的内部结构及检测方法，相信大家对光电耦合器的内部结构及检测方法的认识越来越深入，希望本文能对各位读者有比较大的参考价值

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